VASP缺陷复合与结合能
用硅相邻双空位的实际优化,说明单缺陷与复合缺陷的能量参照。
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两个缺陷相邻时是否更稳定,可以先比较复合缺陷与两个独立单缺陷的形成能。本例在同一个16位点Si超胞中删除两个最近邻原子,计算中性双空位的结合能。
1. 准备三种能量#
需要完整16Si、单空位15Si和双空位14Si三类计算。完整晶体与单空位沿用中性空位教程,双空位另做实际结构优化。
初始删去的两个理想位点距离2.368114 Å。对保留原子施加小扰动,避免初始对称性锁定;固定与完整超胞相同的晶胞,只放松原子位置。优化后按最近理想位点匹配,仍对应同一对缺失位点。
2. 保持相同计算设置#
VASP 6.6.1 P100版,PBE PAW64 Si、550 eV、4×4×4 k网格、EDIFF=1E-6。使用ISPIN=2、ISYM=0,初始每个Si磁矩0.5;ISIF=2、IBRION=2、EDIFFG=−0.02。最终结构是否有磁性应看收敛结果,初始MAGMOM不是约束磁矩。
构建采用NVHPC 25.3、CUDA 12.8、MKL 2023.2及配套MPI。本次双空位最大原子力0.013758 eV/Å,满足所用原子优化目标。没有进行晶胞体积优化。
3. 先算形成能,再算结合能#
μSi=Ebulk/16:
Ef(V) = Evac − Ebulk + μSi
Ef(V2) = Epair − Ebulk + 2μSi
Ebind = 2Ef(V) − Ef(V2)
= 2Evac − Epair − Ebulk
这一定义下,正的Ebind表示合并为复合缺陷更有利。最后一式两边对应相同总原子数;不要漏掉Ebulk,也不要把一个单空位的总能量直接与双空位总能量相减。
| 量 | 本次结果 / eV |
|---|---|
| Ebulk,16Si | -86.76904238 |
| Evac,15Si | -78.25602425 |
| Epair,14Si | -71.19633436 |
| 单空位形成能Ef(V) | 3.089953 |
| 双空位形成能Ef(V2) | 4.726578 |
| 结合能Ebind | 1.453328 |

4. 怎样理解这个正结合能#
在本套固定晶胞、所取中性构型和电子方法下,相邻双空位比两个单空位参照的形成能之和低1.453328 eV。它说明这个小周期模型中的复合趋势,不代表缺陷一定会在实验时间内聚集。
聚集还受迁移势垒、温度、缺陷浓度和其他陷阱影响。结合能不是迁移势垒,也不能直接换算成反应速率。
5. 小超胞与带电缺陷的区别#
双空位对应原16个位点的12.5%,周期镜像可能明显。定量研究需要扩大超胞,并比较更多相对位置、局部重构及自旋态;本例只展示一个已优化的相邻构型,不宣称穷尽所有双空位结构。
带电缺陷复合还需要保证反应电荷守恒,并一致处理费米能、电势对齐及有限尺寸电荷修正;不能将中性公式中的总能量随意替换成不同电荷态。
输入和结果#
附件给出三类模型输入与extract_defect_binding.py。按POSCAR准备合法Si POTCAR,分别提交run.sh,检查自由原子力后再提取能量和结合能。